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下打光长脉宽组件测试仪

下打光长脉宽组件测试仪

适用于单晶硅、多晶硅、Topcon、HIT、HJT、IBC、薄膜电池等光伏组件的电性能测试。

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下打光长脉宽组件测试仪详细介绍

下打光长脉宽组件测试仪

一、设备功能

适用于单晶硅、多晶硅、Topcon、HIT、HJT、IBC、薄膜电池等光伏组件的电性能测试。

 

二、设备特点

采用二次大电容电源及直管氙灯,光源稳定

采用专业设计的滤光片,光谱达到A+级(87.5%-112.5%)

长脉宽10-150ms单次闪光可调

可测试大组件2600mm×1600mm

下打光平台式设计,便于操作

光照辐度可调500-1200W/㎡,可测试不同光照辐度下的电池性能

专业的控制及数据采集系统,确保数据的准确性和系统稳定性

项电性参数和I-V及P-V曲线;***电压处的电流与功率显示

红外测温,自动温度校正

 

三、设备技术参数

设备型号

ST-TLD3A+

可测量参数

I-V、P-V 曲线、短路电流 Isc、开路电压 Voc、功率 Pmpp、电池效率 Eff、填充因子 FF、功率点的电流 Impp、功率点的电压Umpp、串联电阻 Rser、并联电阻 Rshunt、太阳电池表面温度、Iuld(***电压对应的电流)、Puld(***电压对应的功率),其中Uld可以任意设定

可测组件尺寸

2600mm×1600mm

测试速度

240 pcs/小时

闪光时间

10-150ms可调

灯管寿命

>100000次 / 10ms

辐照度范围

500-1200W/㎡

光谱匹配

0.875-1.125(A+级)

辐照度不稳定性STI

≤0.25%(A+级)

辐照度不稳定性LTI

≤1%(A+级)

辐照度不均匀性

≤1%(A+级)

光谱范围(IEC 60904-9:2020)

300-1200nm

重复测试精度

<0.3%

测量范围

电压档 1v/10v/50v/100v/150v/200v

电流档 0.25A/1A/5A/10A/20A

测量分辨率

16bit(测量分辨率 0.003%)

灯管类型

直管氙灯

工作方式

单次脉冲

工作电源

200-240V,10A,50/60HZ,单相

外形尺寸

光源箱(长x宽x高):2900x1800x1050mm

电控柜(xx高):800x600x1800mm

设备重量

光源箱:0.5吨;电控柜:0.28吨




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